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Pre-2002

Chargée de recherches de première classe depuis mon entrée au CNRS en octobre 1992, j’y ai dans une première période poursuivi des travaux en sciences de l’information (informatique et microélectronique, rattachement à la section 07 - scindée depuis en 06 et 07), jusqu’à ma reconversion thématique entamée en janvier 2002. En complément de mon CV qui retrace mes activités sur ma thématique actuelle, on trouvera ci-dessous mes principales réalisations professionnelles précédant cette reconversion.

1 - Responsabilité scientifique et administrative de projets de recherche

  • 1997-2000 – Projet européen EUREKA-MEDEA n°AT403
  • 1997-2000 – Projet bilatéral CAPES-COFECUB n°214/97
  • 1995-1997 – Projet bilatéral MAE ACTIONS INTÉGRÉES n°95010
  • 1994-1998 – Projet bilatéral CAPES-COFECUB n°144/94
  • 1994-1997 – Projet européen COPERNICUS n°9624
  • 1988-1991 – Projet national GCIS-CNRS
  • 1990-1991 – Contrat national industriel avec le CNES
  • 1984-1989 – Projet européen ESPRIT n°271

2 - Activités d'encadrement scientifique

  • 1 post-doctorat (Walid Maroufi, année 2000).
  • 6 thèses de Doctorat soutenues, dont 1 en co-tutelle INPG-Université Technique de Brno, République Tchèque (Peter Bukovjan en 2000, avec félicitations du jury), 2 UPMC (Mounir Benabdenbi en 2002 et Walid Maroufi en 1999, tous deux avec félicitations du jury) et 3 INPG en co-direction avec Bernard Courtois (François Lemery en 1995 : thèse CIFRE avec STMicroelectronics, Hédi Touati en 1996 et Firas Mohamed en 1997).
  • 8 projets de DEA (dont 5 INPG et 3 UPMC) : 1991, 1995, 1998, 2000 et 2001.
  • 1 Projet de fin d’études d’ingénieur de l’IST Lisbonne : 2001 (programme ERASMUS, en co-direction avec un professeur portugais).
  • 2 M.Sc. (Brésil) : 1991 et 1995 (co-direction avec des professeurs brésiliens).

3 - Activités d'administration, d’animation de la recherche et d’expertise

  • Organisation générale du 3è Colloque du GDR 732 du CNRS (CAO des circuits et systèmes intégrés) : comité d’organisation et comité de programme. 15-17 mai 2002, Paris.
  • Membre du Conseil Scientifique du LIP6, représentant le département ASIM (jusqu’en janvier 2002).
  • Animation de l'équipe de recherche « Test » au sein du département ASIM et du nouveau laboratoire conjoint LIP6-STMicroelectronics, devenu Centre européen de recherche en microélectronique (jusqu’en janvier 2002)
  • Responsabilité administrative de projets de recherche
  • Participation à des comités de programme de colloques et conférences internationaux
  • Participation à des jurys de thèse
  • Représentante du laboratoire TIMA/INPG auprès de la Fédération ELESA (jusqu'à juin 1997).

4 - Activités d'enseignement

  • DEA ASIME UPMC – Paris – Module annuel de 12h de cours. De 1998/1999 à 2002/2003.
  • Cours MFQ (Mouvement Français pour la Qualité) - Nanterre - 1992 (6h cours)
  • Mastère INT (Institut National des Télécommunications) - Evry - Année universitaire 1991/92 (3h cours)
  • M.Sc. UFRGS (Université fédérale du Rio Grande do Sul) - Porto Alegre (Brésil) - 1991 (15h cours)

5 - Publications

  1. Mounir Benabdenebi, Walid Maroufi, Meryem Marzouki. Testing TAPed Cores and Wrapped Cores With The Same Test Access Mechanism. IEEE Design Automation and Test in Europe (DATE) Conference. Mars 2001. Munich, Allemagne.
  2. Peter Bukovjan, Laurent Ducerf-Bourbon, Meryem Marzouki. Cost/Quality Trade-Off in Synthesis for BIST. Journal of Electronic Testing : Theory and Applications (Special Issue - LATW00 Best Papers), Volume 17, Numéro 2, pages 109-119. Avril 2001.
  3. Mounir Benabdenbi, Walid Maroufi, Meryem Marzouki. CAS-BUS: a Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-based System Chip Testing. Journal of Electronic Testing : Theory and Applications (Special Issue on Plug-and-Play Test Automation for System-on-a-Chip), Volume 18, Numéro 4-5. pages 455-473. Août 2002.
  4. Mounir Benabdenbi, Walid Maroufi, Meryem Marzouki. CAS-BUS: a Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-based System Chip Testing, in SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation (Krishnendu Chakrabarty Ed.), Kluwer Academic Publishers, Septembre 2002.
  5. Peter Bukovjan, Laurent Ducerf-Bourbon, Meryem Marzouki. Cost/Quality Trade-off in Synthesis for BIST. 1st IEEE Latin America Test Workshop. Mars 2000. Rio de Janeiro (RN), Brésil.
  6. Mounir Benabdenebi, Walid Maroufi, Meryem Marzouki. CAS-BUS: A Scalable and Reconfigurable Test Access Mechanism for Systems on a Chip. IEEE Design Automation and Test in Europe (DATE) Conference. Mars 2000. Paris, France.
  7. Peter Bukovjan, Laurent Ducerf-Bourbon, Meryem Marzouki. Cost/Quality Trade-off in Synthesis for Scan. 3rd International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Avril 2000. Slomenice Castle, Slovaquie.
  8. Laurent Ducerf-Bourbon, Peter Bukovjan, Meryem Marzouki. TACOS: A Testability Allocation and Control System. IEEE European Test Workshop. Mai 2000. Cascais, Portugal.
  9. Walid Maroufi, Mounir Benabdenbi, Meryem Marzouki. Controlling the CAS-BUS TAM with IEEE 1149.1 TAP: A Solution for Systems-On-a-Chip Testing. 4th IEEE International Workshop on Testing Embedded Core-based Systems. Mai 2000. Montreal, Canada.
  10. Walid Maroufi, Mounir Benabdenbi, Meryem Marzouki. Solving the I/O Bandwidth Problem in System on a Chip Testing. XIII Symposium on Integrated Circuits and Systems Design. Septembre 2000. Manaus (AM), Brésil.
  11. Peter Bukovjan, Meryem Marzouki, Walid Maroufi. Testability Analysis and Cost/Quality Trade-off in Synthesis for Testability. 4th IEEE European Test Workshop. Mai 1999. Constance, Allemagne.
  12. Peter Bukovjan, Meryem Marzouki, Walid Maroufi. Testability Analysis in High-Level Synthesis. 10th European Workshop on Dependable Computing. Mai 1999. Vienne, Autriche.
  13. Peter Bukovjan, Meryem Marzouki, Walid Maroufi. Design for Testability Reuse in Synthesis for Testability. XII Symposium on Integrated Circuits and Systems Design. Septembre 1999. Natal (RN), Brésil.
  14. Walid Maroufi, Meryem Marzouki. STA : A System Testability Assistant. 3rd IEEE European Test Workshop. Mai 1998. Sitges, Espagne.
  15. Peter Bukovjan, Meryem Marzouki, Walid Maroufi. Allocation for Testability in a High-Level Synthesis Process. 5th Electronic Devices and Systems Conference. Juin 1998. Brno, République Tchèque.
  16. Peter Bukovjan, Meryem Marzouki, Walid Maroufi. Cost/Quality Trade-off in High-Level Synthesis for Testability. 2nd International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Septembre 1998. Szczyrk, Pologne.
  17. Walid Maroufi, Meryem Marzouki. System Testability Evaluation with STA. 10th International Conference on Microelectronics. Décembre 1998. Monastir, Tunisie.
  18. Meryem Marzouki. Synthèse pour le test (Tutorial) . Colloque CAO de circuits intégrés et systèmes. Janvier 1997. Villard de Lans, France.
  19. Walid Maroufi, Meryem Marzouki. Specification and Early Evaluation of System Testability through Object Oriented modeling. IEEE European Test Workshop. Mai 1997. Cagliari, Italie.
  20. Firas Mohamed, Meryem Marzouki, Mohamed Hédi Touati. A Cost-effective Approach for Analog, Digital and Mixed-signal Test and Diagnosis. IEEE European Test Workshop. Mai 1997. Cagliari, Italie.
  21. Firas Mohamed, Meryem Marzouki. Test and Diagnosis of Analog Circuits : When Fuzziness can Lead to Accuracy. Journal of Electronic Testing : Theory and Applications (Special Issue on mixed-signal testing), Numéro 9, Pages 203-216. 1996.
  22. Meryem Marzouki, Adam Osseiran. The IEEE Boundary Scan Standard : a Test Paradigm to Ensure Hardware System Quality. The Quality Engineering Journal (Special Issue on Quality Effort in Europe). Marcel Dekker Inc. Publ. New York, Volume 8, Numéro 4, Pages 635-645. 1996.
  23. Firas Mohamed, Meryem Marzouki, Mohamed Hédi Touati. FLAMES : A Fuzzy Logic ATMS and Model-based Expert System for Analog Diagnosis. European Design and Test Conference. Mars 1996. Paris, France.
  24. M. Hédi Touati, Firas Mohamed, Meryem Marzouki. System Fault Diagnosis Based on a Fuzzy Qualitative Approach. European Design and Test Conference. Mars 1996. Paris, France.
  25. Firas Mohamed, Meryem Marzouki, Anton Biasizzo, Franc Novak. Analog Circuit Simulation and Troubleshooting with FLAMES. IEEE International VLSI Test Symposium. Avril 1996. Princeton (NJ), USA.
  26. Firas Mohamed, Mohamed Hédi Touati, Meryem Marzouki. Multi-level Fuzzy Decision-Making for DFT, Test and Diagnosis of Analog Circuits. International Mixed Signal Testing Workshop. Juin 1996. Québec (Québec), Canada.
  27. Firas Mohamed, Meryem Marzouki, Anton Biasizzo, Franc Novak. Testing and Diagnosis of Analog Devices with FLAMES. KoREMA 41st annual conference. Septembre 1996. Opatija, Croatie.
  28. Vladimir Castro Alves, Alexandre Ribeiro Antunes, Meryem Marzouki. A Pragmatic, Systematic, and Flexible Synthesis for Testability Methodology. 5th Asian Test Symposium. Novembre 1996. Hsinchu, Taiwan.
  29. Meryem Marzouki, Walid Maroufi, Vladimir Castro Alves, Alexandre Ribeiro Antunes. Global Test Scheduling and Control in a HL-SFT Environment. IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop. Novembre 1996. Oakland (CA), USA.
  30. Alexandre Ribeiro Antunes, Vladimir Castro Alves, Antonio Mesquita, Meryem Marzouki. Including Testability in a High-Level Synthesis Environment. IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop. Novembre 1996. Oakland (CA), USA.
  31. Firas Mohamed, Meryem Marzouki. La logique floue pour le test et le diagnostic des circuits analogiques. Rencontres Francophones sur la Logique Floue et ses Applications. Décembre 1996. Nancy, France.
  32. Meryem Marzouki, Vladimir Castro Alves, Alexandre Ribeiro Antunes. Requirements and General Framework for an Efficient Synthesis For Testability Methodology. 2nd International Test Synthesis Workshop. Mai 1995. Santa Barbara (CA), USA.
  33. Firas Mohamed, Meryem Marzouki, Franc Novak, Anton Biasizzo. A Fuzzy Logic Approach for Analog Circuit Diagnosis. International Mixed Signal Testing Workshop. Juin 1995. Grenoble, France.
  34. Meryem Marzouki, Vladimir Castro Alves, Alexandre Ribeiro Antunes. High-Level Synthesis For Testability (Tutorial) . 38th IEEE Midwest Symposium on Circuits and Systems, Special Section on Testability Issues for Digital Circuits and Systems, Pages 718-721. Août 1995. Rio de Janeiro, Brésil.
  35. Yervant Zorian, Meryem Marzouki. Multi-Chip Modules Testing and DFT (Tutorial) . 38th IEEE Midwest Symposium on Circuits and Systems, Special Section on Testability Issues for Digital Circuits and Systems, Pages 722-725. Août 1995. Rio de Janeiro, Brésil.
  36. Marcelo Soares Lubaszewski, Meryem Marzouki, Mohamed Hédi Touati. A Pragmatic Test and Diagnosis Methodology for Partially Testable MCMs. IEEE Multi-Chip Module Conference. Mars 1994. Santa Cruz (CA), USA.
  37. Meryem Marzouki, Bernard Courtois, Vladimir Castro Alves. High-Level Synthesis for Testability : Where should we go from ?. 1st International Test Synthesis Workshop. Mai 1994. Santa Barbara (CA), USA.
  38. Meryem Marzouki, Marcelo Soares Lubaszewski, Mohamed Hédi Touati. . Unifying Test and Diagnosis of Interconnects and Logic Clusters in Partial Boundary Scan Boards. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Pages 654-657. Novembre 1993. Santa Clara (CA), USA.
  39. Meryem Marzouki, Fabian Vargas. Using a knowledge-based system for automatic debugging : case study and performance analysis. The Microelectronic Engineering Journal (Special Issue on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits), Volume 16, Numéro 1-4, Pages 129-136. 1992.
  40. Marcelo Soares Lubaszewski, Meryem Marzouki, Bernard Courtois. Reusing a Circuit Debugging Knowledge-Based Tool to Diagnose Boards with Partial Boundary Scan. Systems Test and Diagnosis Workshop. Novembre 1992. Freiburg, Allemagne.
  41. Meryem Marzouki. Model-based reasoning for electron-beam debugging of VLSI circuits. Journal of Electronic Testing : Theory and Applications, Volume 2, Numéro 4, Pages 385-394. 1991.
  42. Meryem Marzouki, Fabian Luis Vargas. Debugging prototype circuits using a knowledge-based approach : a case study. 6th SBMICRO Congress, Pages 517-526. Juillet 1991. Belo Horizonte (MG), Brésil.
  43. Meryem Marzouki, Jacques Laurent, Bernard Courtois. Coupling electron-beam probing with knowledge-based fault localization. 22nd IEEE International Test Conference, Pages 238-247. Octobre 1991. Nashville (TN), USA.
  44. Didier Conard, Bernard Courtois, Jacques Laurent, Meryem Marzouki. High level tools and methods for electron-beam testing (invited paper) . IV Simposio de Computadores Tolerantes a Falhas. Octobre 1991. Gramado (RS), Brésil.
  45. Meryem Marzouki, Fabian Luis Vargas. Knowledge-based debugging of ASICs : real case study and performance analysis. IEEE International Conference on Computer Aided Design, Pages 198-201. Novembre 1991. Santa Clara (CA), USA.
  46. Didier Conard, Bernard Courtois, Jacques Laurent, Meryem Marzouki. . High level tools and methods for electron-beam debug and failure analysis of integrated circuits. Seminar on Intelligent Measurement Systems. Juillet 1990. Budapest, Hongrie.
  47. Meryem Marzouki, Jacques Laurent, Bernard Courtois. A unified use of deep and shallow knowledge in an expert system for prototype validation of integrated circuits. Journées Internationales d'Avignon sur les S.E. et leurs Applications, Pages 55-69. Mai 1989. Avignon, France.
  48. Meryem Marzouki, Bernard Courtois. Debugging integrated circuits : A. I. can help. IEEE European Test Conference, Pages 184-191. Avril 1989. Paris, France.
  49. Meryem Marzouki, Bernard Courtois. A knowledge-based approach to the prototype validation of ICs. Technical Workshop : New Directions for IC Testing. Octobre 1988. Halifax (Nouvelle Écosse), Canada.
  50. Meryem Marzouki, Jacques Laurent, Bernard Courtois. Ergonomie du test de circuits intégrés : présentation du système expert PESTICIDE. Colloque Ergonomie et Intelligence Artificielle - AFCET/SELF, Pages 316-327. Octobre 1988. Biarritz, France.
  51. Marcello Melgara, Mario Battu, Pier Garino, Franck Boland, Jim Dowe, Meryem Marzouki, Yves Jacques Vernay. Automatic location of IC design errors using an electron beam system. 19th IEEE International Test Conference, Pages 898-907. Septembre 1988. Washington DC, USA.
  52. Meryem Marzouki, Bernard Courtois. PESTICIDE : a Prolog-written Expert System as a Tool for Integrated CIrcuits DEbugging. 6th European Workshop on Design For Testability. Juin 1988. Garderen, Pays-Bas.
  53. Meryem Marzouki, Bernard Courtois. Debugging integrated circuits : a knowledge-based approach. Fault Tolerant Systems and Diagnostics Conference, Pages 94-102. Juin 1988. Suhl, RDA.
  54. Marcello Melgara, Bernard Courtois, Meryem Marzouki, Dominique Micollet. Design for electron-beam debugging. CAVE Workshop. Mai 1988. Sintra, Portugal.
  55. Isabelle Guiguet, Meryem Marzouki, Bernard Courtois. An integrated debugging system based on e-beam test. The Microelectronic Engineering Journal (Special Issue on Electron and Optical beam Testing of Integrated Circuits), Volume 7, Numéro 2-4, Pages 275-282. 1987.
  56. Marcello Melgara, Mario Battu, Pier Garino, Jim Dowe, Meryem Marzouki. Fully automatic VLSI diagnosis in a CAD-linked e-beam probing system. The Microelectronic Engineering Journal (Special Issue on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits), Volume 7, Numéro 2-4, Pages 283-293. 1987.
  57. Laurent Bergher, Isabelle Guiguet, Meryem Marzouki, Bernard Courtois. Electron-beam testing : failure analysis and debug of integrated circuits. Technical Workshop : New Directions for IC testing. Avril 1987. Winnipeg (Manitoba), Canada.